电子显微镜（Electron Microscope，简称为EM）是一种通过聚焦电子束来实现高分辨率成像的显微镜。其分辨率通常可以达到0.1纳米，比光学显微镜要高很多。
电子显微镜检测步骤主要分为以下几个步骤：
进行电子显微镜观察的首要步骤就是样品的制备。样品制备过程需要考虑到样品的尺寸、结构、形态、性质等因素。
2. 样品切割
为了获得高质量的电子显微镜图像，要求样品表面的特征清晰，因此常常需要进行样品切割来获得合适的截面形态。
3. 样品固定
在样品制备完成后，要进行固定过程，以防止在观测过程中样品变形或漂移现象。
4. 电子显微镜调节
电子显微镜的成像质量与仪器的调节良好与否密切相关。因此在检测前，需要对电子显微镜进行正确的调节。
5. 电子显微镜观察
准备好样品、调整好仪器后，可以进行电子显微镜观察。
6. 数据分析
得到显微镜采集的图像后，需要对图像进行数据分析、处理等操作，得到更为准确的样品结构与特性等信息。
总之，电子显微镜是一种高级的观察手段，对样品制备的质量、电子显微镜的调控、电子显微镜观测技术等方面都要求严格，这也是保证结果可靠性的做法。