热点检测微光显微镜（hotspot detection microscopy）是一种用于研究材料电子输运性质的表面显微镜技术。它可以非常快速地通过成像来检测局部热点，从而帮助人们深入了解材料电子输运过程中的微观机制。
具体来说，这种显微镜利用一个悬挂热探针，在样品表面扫描产生热量，并观察产生的温度变化和电阻率变化，从而获得材料表面的可视化信息。通过比较扫描前后的温度和电阻值变化，就可以确定材料表面存在的局部热点，进而深入研究材料内部的电子输运机制。
这种技术已经被广泛应用于半导体器件的研究中，比如研究金属/半导体界面的电子输运过程，研究半导体材料中的缺陷和杂质对电子输运性质的影响，研究半导体材料的能带结构等。
与其他表面显微镜技术相比，热点检测微光显微镜有着诸多优势。首先，它可以非常快速和灵敏地检测出表面的局部热点，帮助人们对材料的电子输运机制进行实时跟踪和研究。其次，它还可以对材料进行高分辨率成像，帮助人们更深入地理解材料的微观结构和特性。
当然，热点检测微光显微镜也存在一些挑战和局限性。例如，由于热探针的扫描速度较慢，因此在大面积或复杂几何形状的样品上进行成像比较困难。此外，热探针扫描时也容易对样品表面造成损伤或污染，因此操作注意事项需要进行周密的考虑。
总的来说，热点检测微光显微镜是一种非常有前途的电子输运研究技术。它可以帮助人们深入研究材料的微观机制，探索新的电子输运途径和材料设计思路。在未来的研究中，它有望发挥更加广泛和重要的作用。